前幾篇文章中有講述到把薄膜電容的自愈性是與制造工藝有關(guān)的，本文要跟大家講述的是外施電壓和外界壓力的關(guān)系會對薄膜電容的自愈發(fā)生什么影響嗎？一起跟著小編的進(jìn)度了解下！

外施電壓對薄膜電容自愈性的影響：為了實(shí)現(xiàn)自愈須在圍統(tǒng)擊穿點(diǎn)處有一定的量作用形成去掉金屬的固開區(qū)城，但如釋放的量太多，臨近的介質(zhì)就會遭受破壞而引起新的擊穿，如此發(fā)展下去就會導(dǎo)致介質(zhì)反復(fù)擊穿從而使擊穿點(diǎn)處介質(zhì)燒灼結(jié)和自愈失效。可見為了獲得足夠的自愈暈區(qū)并使臨近的介質(zhì)不致受到損傷，自愈放電量須拉制在一定的范圍內(nèi)。自愈區(qū)耗散的量是影響自愈性能的一個(gè)重要參數(shù)。

外界壓力關(guān)系自愈釋放的量與壓力有很大關(guān)系。自愈點(diǎn)壓力提高絕緣容易恢復(fù)，形成的自愈暈區(qū)半徑就小，釋放的量相應(yīng)地也減小。解剖加過試驗(yàn)電壓的電容器時(shí)可以看到在薄膜電容器外層卷統(tǒng)較松的地方自愈暈區(qū)較大，而內(nèi)層卷繞得較緊，是區(qū)較小。一般外層暈區(qū)比內(nèi)層暈區(qū)的約大2~10倍。

薄膜電容的自愈是指是在一定的條件下實(shí)現(xiàn)的，超過一定的限度薄膜電容器就會喪失自愈性能。在設(shè)計(jì)與試驗(yàn)薄膜電容器時(shí)應(yīng)盡可能保證條件下進(jìn)行，即介質(zhì)擊穿時(shí)引的脈沖電流小，釋放的量小，從而使鄰近擊穿點(diǎn)處介質(zhì)的損傷也小從電容器結(jié)構(gòu)上來考慮，小元件極板長度、增加極板寬度對自愈是有利的。

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